Objective
振動試験を行う目的はロケットによる打ち上げ時の振動によって搭載している電子機器や構体が破損しないことを 確認することにある．具体的には
(1) CUTE-I構体の分離機構に把持された状態での打ち上げ振動環境に対する耐性 (2) CUTE-I搭載電子機器の打ち上げ振動環境に対する耐性 (3) 展開機構系(アンテナ・パドル)の分離機構に把持された状態での打ち上げ振動環境に対する耐性 (4) 分離用電子回路の打ち上げ振動環境に対する耐性 の確認を目的として行ってきた．
Test & Result
これまで2001年，2002年，2003年と3年間に渡り，実験モデルと環境を変えて数回振動試験を実施してきた．各年の振動試験では衛星システムの振動特性を確認するためのモーダル振動試験に加え，打ち上げ時の振動環境を模擬した正弦波振動試験やランダム振動試験を行った．
試験時における計測用の加速度センサの取り付け位置は下図のようである．これ以外にも冶具に制御用とリファレンス用の加速度センサが取り付けられている．
また試験はX，Y，Z軸の3軸方向についてそれぞれ行っており，ここでは代表としてZ軸ランダム振動試験の結果の一部を示す．
結果としては全ての確認項目においてその振動耐性は確認され，CUTE-I衛星システムが実際の打ち上げの振動環境に耐えうることが確認された．
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Tokyo Institute of Technology Lab. for Space Systems (LSS)
TITECH CUBESAT PROJECT TEAM
Contact : Munetaka KASHIWA
